手順Bの試験片は、2枚の同一プレートを1つまたは2つの中心線上の留め具を用いて固定したもので、両端にダブラーを設けることで、加えられた力の偏心による曲げを最小限に抑えています。 この支持具は、固定具を安定させて曲げの影響をさらに最小化するために、引張または圧縮のいずれかの荷重で使用することができます。支持具の両端のグリップには、Boeing社のOpen-Hole Compression Test Fixture, Model WTF-OH（参考文献2）と同様に、油圧式ウェッジグリップが使用されています。 図1の左側にある治具の開いた部分に見られるように、タングステンカーバイド粒子の試験片把持面が、グリップから試験片に加わる荷重を伝達するために使用されています。